Form factor ratio measurement in c+e+e

G. Crawford
, C. M. Daubenmier
, R. Fulton
, D. Fujino
, K. K. Gan
, K. Honscheid
, H. Kagan
, R. Kass
, J. Lee
, M. Sung
, C. White
, A. Wolf
, M. M. Zoeller
, F. Butler
, X. Fu
, B. Nemati
, W. R. Ross
, P. Skubic
, M. Wood
, M. Bishai

J. Fast, E. Gerndt, J. W. Hinson, R. L. McIlwain, T. Miao, D. H. Miller, M. Modesitt, D. Payne, E. I. Shibata, I. P.J. Shipsey, P. N. Wang, M. Battle, J. Ernst, L. Gibbons, Y. Kwon, S. Roberts, E. H. Thorndike, C. H. Wang, J. Dominick, M. Lambrecht, S. Sanghera, V. Shelkov, T. Skwarnicki, R. Stroynowski, I. Volobouev, G. Wei, P. Zadorozhny, M. Artuso, M. Gao, M. Goldberg, D. He, N. Horwitz, G. C. Moneti, R. Mountain, F. Muheim, Y. Mukhin, S. Playfer, Y. Rozen, S. Stone, X. Xing, G. Zhu, J. Bartelt, S. E. Csorna, Z. Egyed, V. Jain, D. Gibaut, K. Kinoshita, P. Pomianowski, B. Barish, M. Chadha, S. Chan, D. F. Cowen, G. Eigen, J. S. Miller, C. O'Grady, J. Urheim, A. J. Weinstein, M. Athanas, W. Brower, G. Masek, H. P. Paar, J. Gronberg, C. M. Korte, R. Kutschke, S. Menary, R. J. Morrison, S. Nakanishi, H. N. Nelson, T. K. Nelson, C. Qiao, J. D. Richman, A. Ryd, D. Sperka, H. Tajima, M. S. Witherell, M. Procario, R. Balest, K. Cho, W. T. Ford, D. R. Johnson, K. Lingel, M. Lohner, P. Rankin, J. G. Smith, J. P. Alexander, C. Bebek, K. Berkelman, K. Bloom, T. E. Browder, D. G. Cassel, H. A. Cho, D. M. Coffman, D. S. Crowcroft, P. S. Drell, D. J. Dumas, R. Ehrlich, P. Gaidarev, M. Garcia-Sciveres, B. Geiser, B. Gittelman, S. W. Gray, D. L. Hartill, B. K. Heltsley, S. Henderson, C. D. Jones, S. L. Jones, J. Kandaswamy, N. Katayama, P. C. Kim, D. L. Kreinick, G. S. Ludwig, J. Masui, J. Mevissen, N. B. Mistry, C. R. Ng, E. Nordberg, J. R. Patterson, D. Peterson, D. Riley, S. Salman, M. Sapper, F. Würthwein, P. Avery, A. Freyberger, J. Rodriguez, S. Yang, J. Yelton, D. Cinabro, T. Liu, M. Saulnier, R. Wilson, H. Yamamoto, T. Bergfeld, B. I. Eisenstein, G. Gollin, B. Ong, M. Palmer, M. Selen, J. J. Thaler, K. W. Edwards, M. Ogg, A. Bellerive, D. I. Britton, E. R.F. Hyatt, D. B. MacFarlane, P. M. Patel, B. Spaan, A. J. Sadoff, R. Ammar, P. Baringer, A. Bean, D. Besson, D. Coppage, N. Copty, R. Davis, N. Hancock, M. Kelly, S. Kotov, I. Kravchenko, N. Kwak, H. Lam, Y. Kubota, M. Lattery, M. Momayezi, J. K. Nelson, S. Patton, R. Poling, V. Savinov, S. Schrenk, R. Wang, M. S. Alam, I. J. Kim, Z. Ling, A. H. Mahmood, J. J. O'Neill, H. Severini, C. R. Sun, F. Wappler

Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

36 Scopus citations

Sort by

Form factor ratio measurement in c+e+e

Fingerprint

Keyphrases

Physics