Measurement of the real dielectric permittivity ϵ r of glacial ice

P. Allison, S. Archambault, J. Auffenberg, R. Bard, J. J. Beatty, M. Beheler-Amass, D. Z. Besson, M. Beydler, C. C. Chen, C. H. Chen, P. Chen, A. Christenson, B. A. Clark, A. Connolly, L. Cremonesi, C. Deaconu, M. Duvernois, L. Friedman, R. Gaior, J. HansonK. Hanson, J. Haugen, K. D. Hoffman, E. Hong, S. Y. Hsu, L. Hu, J. J. Huang, M. H.A. Huang, A. Ishihara, A. Karle, J. L. Kelley, R. Khandelwal, M. C. Kim, I. Kravchenko, J. Kruse, K. Kurusu, T. Kuwabara, H. Landsman, U. A. Latif, A. Laundrie, C. J. Li, T. C. Liu, M. Y. Lu, K. Mase, T. Meures, J. Nam, R. J. Nichol, G. Nir, A. Novikov, E. Oberla, A. O’ Murchadha, Y. Pan, C. Pfendner, K. Ratzlaff, M. Relich, J. Roth, P. Sandstrom, D. Seckel, Y. S. Shiao, A. Shultz, M. Song, J. Touart, G. S. Varner, A. Vieregg, M. Z. Wang, S. H. Wang, S. Wissel, S. Yoshida, R. Young

Research output: Contribution to journalArticlepeer-review

20 Scopus citations

Fingerprint

Dive into the research topics of 'Measurement of the real dielectric permittivity ϵ r of glacial ice'. Together they form a unique fingerprint.

Keyphrases

Physics