The dependence of UMOSFET characteristics and reliability on geometry and processing
- S. A. Suliman
- , N. Gollagunta
- , L. Trabzon
- , J. Hao
- , R. S. Ridley
- , C. M. Knoedler
- , G. M. Dolny
- , O. O. Awadelkarim
- , S. J. Fonash
Research output: Contribution to journal › Article › peer-review
10
Link opens in a new tab
Scopus
citations